EEPROM-Testprogramm für C-Control I 1.1
|_-E2TEST, Neue Version: 0.7 (29. Apr. 2017)


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Dieses praktische Testprogramm zum C-Control/BASIC Steuercomputer erkennt defekte Speicherzellen
im externen Programm- und Datenspeicher, das ist der kleine 8-polige EEPROM-Chip .

Für dieses Testprogramm muß der EEPROM-Chip nicht ausgelötet werden, was ein großer Vorteil ist.

Geeignet für folgende EEPROM-Typen: 24C64 (8 KiB), 24C65 (8 KiB), 24C128 (16 KiB), 24C256 (32 KiB),
24C512 (64KiB), sowie 24C1024 (128 KiB in zwei 64 KiB Bänken, nur die erste wird getestet.)


L-E2TEST wird wie ein normales Anwenderprogramm zum C-Control Steuercomputer übertragen und gestartet.

Die vorgefundenen EEPROM-Inhalte bleiben erhalten, es sei denn während des Testablaufs wird die Reset-Taste gedrückt oder die Stromversorung zum C-Control unterbrochen.

Allerdings wird beim Hochladen des Testprogramms in den C-Control Steuercomputer das vorherige Anwenderprogramm überschrieben. Bei Verwendung der originalen C-Control-Firmware ist das normal.

Nur C-Control I 1.1: Mit der freien 'Lbit'-Firmware kannst du mehrere Programme gleichzeitig
 im Speicher des C-Control verwalten. Dadurch entfällt die im vorstehenden Absatz genannte Einschränkung. Das 'Lbit'-Firmware Installationsprogramm kann das im C-Control befindliche Anwenderprogramm übernehmen, so dass es weiterhin auch unter der 'Lbit'-Firmware verwendet werden kann (ohne Gewähr). Möchte man die 'Lbit'-Firmware zu einem späteren Zeitpunkt wieder entfernen, kann ebenfalls das vor dem Upgrade im Speicher befindliche Programm wieder hergestellt werden (ohne Gewähr).

L-E2TEST kann nach jedem Testlauf ohne erneutes Hochladen (fast) beliebig oft wiederholt werden. Die Anzahl der gewünschten Testdurchgänge kann beim Start im Bereich von 0 bis 65535 angegeben werden.

Werden während des Testlaufs keine Fehler gemeldet, so kann man mit hoher Wahrscheinlichkeit davon ausgehen daß der, getestete EEPROM Chip in Ordnung "i.O." ist. Und dass man diesen ohne Probleme zusammen mit dem C-Control System, bei der während des Test verwendeten Taktfrequewnz wird einsetzen könnnen.


Sonstiges:

L-E2TEST wurde vollständig mit dem Open-Control/BASIC Kompiler aus dem Open-Micro(Grafik zeigt das Open-Micro Logo) Projekt entwickelt.


Bild 1: Testablauf am Beispiel des 24C256

Listenausgabe von LE2TEST

Schnellanleitung:
  1. L-E2TEST ist als vorkompilierte .DAT-Datei erhältlich und wird wie ein normales Anwenderprogramm zum C-Control Steuercomputer übertragen.

    Hinweis: Normalerweise werden hierduch das im C-Control evt. schon befindliche Anwenderprogramm sowie die externe Datendatei überschrieben

    Falls du also     nach dem Test dein Anwenderprogramm weiterhin nutzen möchtest,
    solltest du dessen Quelltext und eine Entwicklungsumgebung (IDE) parat haben
    mit welcher du dein Anwenderprogramm nach dem Test erneut kompileren und wieder
    hochladen kannst.

    Nicht überschrieben wird hingegen ein evt. im Prozessor gespeichertes Assembler-
    programm.




    Tipp1:       Als IDE kannst du z.B. unser Projekt, die L Distribution verwenden.
             Oder jede andere IDE, die mit dem C-Control Steuercomputer kompatibel ist.

    Tipp2:   Innerhalb der L-Distribution erreichstdu das Auswahlmenü der Seriellen Schnittstelle
             wie folgt: Öffne die Datei L:\x2g\Info.L und drücke dort eine der Funktionstasten
            [F9], [F10], [F11], oder [F12].

  2. Die Start-Taste am C-Control Modul drücken.

  3. Jetzt den im Terminalfenster erscheinenden Hinweisen folgen.

    Bitte während des Testlaufs nicht die Stromversorgung unterbrechen!

    (Durch 2-maliges Drücken einer Taste im Terminalfenster kannst du den Testa vorzeitig beenden.)


Fragen und Anregungen zum Programm bitte an das Forum der Website http://ccintern.dharlos.de richten.



Darstellung der Testergebnisse

In der linken Spalte des Terminalbildschirms siehst du die Byteadresse der getesteten Speicherzelle.
Es werden immer zwei Byte-Speicherzellen auf einmal getestet, deshalb steigen die Adressen in Zweier-Schritten.

"i.O." erscheint, nachdem jeweils 16 Bits erfolgreich getestet wurden.

Intakte Speicherzellen erhalten nach dem Test wieder ihren vorherigen Inhalt.


Pagewrite-Bereiche

Außer beim 24C65 werden auch die Anfangs-, sowie die Endadressen der sogenannten Page-Boundaries
durch die Testroutine ausgemessen und im Terminalprogamm dargestellt.

Beim 24C65 EEPROM dagegen sind Page-Boundaries durch einen chipinternen, 64 Bytes umfassenden Pufferspeicher maskiert und werden daher von der vorliegenden Version dieses nicht erkannt.

War der Test erfolgreich?

Erscheinen außer den vorgenannten Meldungen keine weiteren Hinweise durch das Programm, kann man
davon ausgehen, dass der gerade getestete EEPROM-Chip im Zusammenspiel mit dem C-Control-System
sehr wahrscheinlich einwandfrei funktionieren wird.


Das Testprogramm startet nicht?

Wenn du das Testprogramm zwar erfolgreich zum C-Control Steuercomputer übertragen konntest, es
aber nach Druck auf die Start-Taste nichts tut, versuche bitte einen der untenstehenden alternativen Downloads.

Grundsätzlich kann das Testprogramm auch in einem teilweise defekten Speicherchip noch erfolgreich
gestartet und der Testablauf durchgeführt werden. Allerdings muß das zu testende 24C65-EEPROM über
einen fehlerfreien Speicherblock verfügen in welchem das Testprogramm selbst ausgeführt wird.

Auf dieser Seite stehen deshalb 5 Varianten des ansonsten identischen Testprogramms zur Verfügung, bei
denen durch eingefügte Füllbytes die Ausführungsposition der Testschleife im Speicher unterschiedlich
ist. Dadurch erhöht sich die Wahrscheinlichkeit dass dieses Testprogramm auf bereits teilweise defekten
Chips dennoch verwendet werden kann.

Die nachfolgenden Varianten können ersatzweise versucht werden, falls es mit dem obigen Testprogramm (Variante A, LE2TST-A.DAT) nicht funktioniert hat:

LE2TST-B.DAT(oder)LE2TST-C.DAT(oder)LE2TST-D.DAT(oder)LE2TST-E.DAT


Defekte EEPROM-Bausteine bitte als 'defekt' markieren und noch aufbewahren. Durch Analyse
defekter EEPROM-Chips kannst du beitragen zukünftige Versionen des EEPROM-Testprogramms
zu verbessern.

Du kannst das |_ Team unterstützen und defekte 24Cxx EEPROM Bausteine spenden oder uns dein Testergebnis per E-Mail zusenden.


Lizenz:


              ***  EEPROM-Speichertest f. C-Control I 1.1 ***

Vereinbarung: Dieses Programm ist EXPERIMENTELLE SOFTWARE zur Ausfuehrung
              nur auf C-Control I Version 1.1. (20.12.96)

 Auf anderen Systemen (z.B. C-Control I 2.0, B-Control, Open-Micro-Familie,
 CC1-OS-Projekt) sollte dieses Programm vorsichtshalber NICHT ausgefuehrt
 werden, da C-Control I 1.1-spezifische Systemaufrufe enthalten sind.

 Dieses Programm kann in Konzept und Realisierung Fehler enthalten und erhebt
 keinen Anspruch auf Vollstaendigkeit oder Verwendbarkeit fuer einen bestimmten
 Zweck. Die Programmreife entspricht einer fruehen Betaversion.
 Dieses Programm wird allen Interessierten 'so wie es ist' in ausfuehrbarer
 Form (Bytekode) zur Verfuegung gestellt. Das Copyright verbleibt bei den
 urspruenglichen Herausgebern. Fragen und Anregungen zum Programm bitte in
 eines der Foren zur C-Control I stellen. (z.B. http://ccintern.dharlos.de)

 In keinem Fall koennen die Herausgeber eine Haftung fuer im Zusammenhang mit
 diesem Programm entstandene Schaeden uebernehmen. Um das Programm zu starten
 geben Sie bitte unten 'ok' ein, wenn Sie mit der Vereinbarung aus den
 vorstehenden 20 Zeilen einverstanden sind.

 Updates und Projektarchiv - http://visit.ghn-sensorik.de/L-Team/E2Test/
 


* Nicht unterstützt werden die EEPROM "24LC1025" und "24AA1025", da diese als Programmspeicher für das C-Control I 1.1 System nicht geeignet sind.